但大家在憧憬美好愿景的同时，也不得不面对骨感的现实。毕竟芯片设计、制造工艺先进、产品的性能稳定可靠、产品的迭代升级是赢得客户和市场认可的首要条件。一款芯片的发货量超过数十万、甚至千万片才有得赚，但如果如此大量的芯片有潜在的质量隐患，或者冒险采用一款没有被市场充分认可的芯片，可能要准备拼上所有家当了！

按照应用场景和使用领域，典型的有射频芯片、光电器件与芯片、SSD主控芯片，以及MCU、蓝牙BLE、模拟芯片，最近几年功率器件（第三代或宽禁带半导体器件），AI芯片也异军突起。

芯片利用特殊的工艺，将晶体管、电阻、电容等成千上万元件集成在硅基片上而形成的具有一定功能的器件，因此，元件的物理特性对芯片的性能尤为重要，如采用的材料和工艺不同，元件特性和芯片性能迥异！

芯片的电特性参数测试，最普遍用到的设备包括半导体参数分析仪和精密源表SMU等。例如作为行业标准的Keysight B1500A半导体参数分析仪，B1505A 功率器件参数分析仪，还有B2900B系列源表，以及多通道的 PXI 源表模块等等。

电流测试范围从0.01fA至1500A，最高电压至10KV；最快10nS脉冲激励和200MSa/s 采样速率；IV和CV测量；单台仪表多达90通道，支持丰富的探针台扩展接口或封装，内置丰富半导体器件和模型库的测试和分析软件Easy Expert等。
这些武装到牙齿的测试设备，虽然可以满足绝大多数元件的参数测量和分析，但当新的技术出现后，如新型“阻变ReRAM”或“相变PRAM”存储芯器的测试，这些手段无法满足电流信号的脉冲宽度和幅度的测量。CX3300器件电流波形分析仪也由此而诞生，它可实现1GSa/s采样率，200MHz带宽，低至150pA电流测量就此诞生！
除了存储芯片和存储材料的测试，CX3300以广泛应用于ECU、MCU、GPU、FPGA处理器芯片，LoRa、BLE、5G无线芯片，脑电波、物联网、MEMS传感器等应用领域，测量分析这些噪声极低、幅值范围大、信号带宽要求高的动态电流波形。
CX3300 电流波形的数据记录仪，凭借其超强的存储能力，可实现在最高10MSa/s采样速率下，连续100小时的波形测量，以测量芯片上时间工作的可靠性，发现其中可能的异常现象，帮助工程师消除设计隐患。